K6F3216U6M-EF70T vs K6F2016U4D-FF70T00 Comparación

Comparación detallada lado a lado de K6F3216U6M-EF70T por Samsung Electronics y K6F2016U4D-FF70T00 por Samsung Electronics. Compare las especificaciones clave, los parámetros eléctricos, el encapsulado, el estado del ciclo de vida, los precios y la disponibilidad para determinar el mejor componente para los requisitos de su diseño.

Samsung Electronics
K6F3216U6M-EF70T K6F3216U6M-EF70T - 32Mbit Async SRAM 2Mx16 | Samsung

K6F3216U6M-EF70T - 32Mbit Async SRAM 2Mx16 | Samsung

K6F3216U6M-EF70T ✓ Activo
Samsung Electronics
K6F2016U4D-FF70T00 K6F2016U4D-FF70T00 - 2Mbit Async SRAM 70ns 48-FBGA | Samsung

K6F2016U4D-FF70T00 - 2Mbit Async SRAM 70ns 48-FBGA | Samsung

K6F2016U4D-FF70T00 ✓ Activo

Comparación de especificaciones

Parámetro K6F3216U6M-EF70T K6F2016U4D-FF70T00
Marca Samsung Electronics Samsung Electronics
Categoría Memory ICs Memory ICs
Estado del ciclo de vida Activo Activo
Estado del stock In Stock In Stock
Precio unitario (USD) $6,10 $2,05
Tipo de memoria SRAM - Asynchronous Asynchronous SRAM
Tamaño de memoria 32 Mbit 2 Mbit
Organización de memoria 2M x 16 128K x 16
Tensión de alimentación 3 V —
Access Time 55 ns —
Interfaz Parallel Parallel
Technology Full CMOS Static RAM Full CMOS
Encapsulado 55-TFBGA (7.5 x 12 mm) 48-FBGA (6x7 mm) chip-scale package
Tipo de montaje Surface Mount Surface Mount
Temperatura de funcionamiento [DATA_NEEDED: Operating Temperature Range] Industrial temperature range
Speed Grade -EF70 (55 ns) —
Standard Pack Qty 2400 —
Estado RoHS NO (per third-party listing) [DATA_NEEDED: RoHS status]
Memory Composition Volatile SRAM —
Refresh Requirement None (static memory) —
Access Time (tAA) — 70 ns
Supply Voltage (Vcc) — 2.7 V to 3.3 V
Write Cycle Time (tWP) — 50 ns
Speed Grades in Family — 55 ns, 70 ns
Power Feature — Super low power and low voltage
Standby Current — [DATA_NEEDED: standby current]
Operating Current — [DATA_NEEDED: operating current]

Hojas de datos y recursos

Examinar todos los productos Crear BOM Solicitar cotización