EP610DC-10 vs EP610IDC-10 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EP610DC-10 par Intel et EP610IDC-10 par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EP610DC-10 | EP610IDC-10 |
|---|---|---|
| Marque | Intel | Intel |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | Obsolete |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $7,95 | $8,85 |
| Device Family | Altera Classic EPLD | Altera Classic EPLD |
| Macrocells | 16 | — |
| Maximum Pipelined Data Rate | 100 MHz | — |
| Pin-to-Pin Propagation Delay (tpd) | 10 ns | — |
| Speed Grade | -10 | — |
| Boîtier | 24-pin CDIP (Ceramic DIP, windowed) | — |
| Type de montage | Through-Hole | Through-hole |
| Technology | CMOS, EPROM-based (UV-erasable) | CMOS, UV-erasable (windowed ceramic) |
| Tension d'alimentation | 5 V (single supply) | — |
| Température de fonctionnement | 0C to +70C (commercial) | — |
| I/O Pins | [DATA_NEEDED: exact I/O count for CDIP-24 variant] | 20 |
| Logic Elements | 16 macrocells (programmable AND/OR array) | — |
| Configuration Memory | UV-erasable EPROM | — |
| Reprogrammable | Yes (UV erase window on package) | — |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: not stated in verified web data] | [DATA_NEEDED: RoHS status of CDIP-10 variant] |
| Logic Capacity | — | 300 usable gates |
| Macrocell Count | — | 16 macrocells |
| Pin-to-Pin Logic Delay (tpd) | — | 10 ns |
| Maximum Counter Frequency (fCNT) | — | 100 MHz |
| Supply Voltage (VCC) | — | 5 V (nominal) |
| I/O Logic Compatibility | — | 100% TTL emulation |
| Package Type | — | 24-pin Ceramic DIP (CDIP) |
| Dedicated Inputs | — | 4 |
| Plage de température de fonctionnement | — | 0 °C to +70 °C (commercial) |
| Programmable Interconnect | — | Yes (on-chip) |
| In-System Programmability | — | Yes (via MAX+PLUS II) |
| Boundary-Scan Test | — | Yes (per device documentation) |