EPM3512AFC256-7 vs EPM3512AFI256-7 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPM3512AFC256-7 par Intel et EPM3512AFI256-7 par Altera. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Intel
EPM3512AFC256-7 - 512-Macrocell MAX 3000A CPLD, 7.5ns, BGA-256 | Intel
EPM3512AFC256-7 ⚠ Dernier achatComparaison des spécifications
| Paramètre | EPM3512AFC256-7 | EPM3512AFI256-7 |
|---|---|---|
| Marque | Intel | Altera |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Dernier achat | Obsolete |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $58,40 | $15,95 |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macrocells | 512 | 512 |
| Logic Array Blocks (LABs) | 16 | 32 (16 macrocells each) |
| User I/O Pins | 212 | 208 |
| Usable Gates | 10,000 | 10,000 |
| Pin-to-Pin Logic Delay | 7.5 ns | — |
| Counter Frequency (max) | 227.3 MHz | — |
| Supply Voltage - Core (VCCINT) | 3.0 V to 3.6 V (3.3 V typ.) | — |
| I/O Voltage (VCCIO) | 5.0 V / 3.3 V / 2.5 V (MultiVolt) | — |
| Boîtier | 256-ball FineLine BGA (FBGA-256) | 256-ball FBGA (Fine-Pitch BGA), 17 mm × 17 mm, 1.0 mm pitch |
| Programming | EEPROM, IEEE 1149.1 JTAG ISP (IEEE 1532-compliant) | — |
| Température de fonctionnement | [DATA_NEEDED: operating temperature grade] | — |
| Type de montage | Surface Mount | Surface Mount (BGA) |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: confirm from data] |
| Configuration Memory | Non-volatile EEPROM | — |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| Maximum Operating Frequency | — | [DATA_NEEDED: fMAX value] |
| Supply Voltage VCCINT | — | 3.3 V |
| MultiVolt I/O Voltage | — | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V tolerant |
| Process Technology | — | 0.30 µm CMOS EEPROM |
| In-System Programmability | — | IEEE Std. 1532 compliant via JTAG |
| Boundary-Scan Test | — | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) |
| Operating Temperature (Industrial) | — | -40 °C to +85 °C |