EPM3512AFC256-7 vs EPM3512AFI256-7 Comparação
Comparação detalhada lado a lado de EPM3512AFC256-7 por Intel e EPM3512AFI256-7 por Altera. Compare especificações principais, parâmetros elétricos, encapsulamento, status do ciclo de vida, preços e disponibilidade para determinar o melhor componente para os requisitos do seu projeto.
Intel
EPM3512AFC256-7 - 512-Macrocell MAX 3000A CPLD, 7.5ns, BGA-256 | Intel
EPM3512AFC256-7 ⚠ Última compraComparação de especificações
| Parâmetro | EPM3512AFC256-7 | EPM3512AFI256-7 |
|---|---|---|
| Marca | Intel | Altera |
| Categoria | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Status do ciclo de vida | Última compra | Obsolete |
| Status do estoque | In Stock | In Stock |
| Preço unitário (USD) | $58,40 | $15,95 |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macrocells | 512 | 512 |
| Logic Array Blocks (LABs) | 16 | 32 (16 macrocells each) |
| User I/O Pins | 212 | 208 |
| Usable Gates | 10,000 | 10,000 |
| Pin-to-Pin Logic Delay | 7.5 ns | — |
| Counter Frequency (max) | 227.3 MHz | — |
| Supply Voltage - Core (VCCINT) | 3.0 V to 3.6 V (3.3 V typ.) | — |
| I/O Voltage (VCCIO) | 5.0 V / 3.3 V / 2.5 V (MultiVolt) | — |
| Encapsulamento | 256-ball FineLine BGA (FBGA-256) | 256-ball FBGA (Fine-Pitch BGA), 17 mm × 17 mm, 1.0 mm pitch |
| Programming | EEPROM, IEEE 1149.1 JTAG ISP (IEEE 1532-compliant) | — |
| Temperatura de operação | [DATA_NEEDED: operating temperature grade] | — |
| Tipo de montagem | Surface Mount | Surface Mount (BGA) |
| Status RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: confirm from data] |
| Configuration Memory | Non-volatile EEPROM | — |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| Maximum Operating Frequency | — | [DATA_NEEDED: fMAX value] |
| Supply Voltage VCCINT | — | 3.3 V |
| MultiVolt I/O Voltage | — | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V tolerant |
| Process Technology | — | 0.30 µm CMOS EEPROM |
| In-System Programmability | — | IEEE Std. 1532 compliant via JTAG |
| Boundary-Scan Test | — | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) |
| Operating Temperature (Industrial) | — | -40 °C to +85 °C |