EPM9560RC240-10 vs EPM9560RC240-15N Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPM9560RC240-10 par Altera et EPM9560RC240-15N par Altera. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EPM9560RC240-10 | EPM9560RC240-15N |
|---|---|---|
| Marque | Altera | Altera |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | NRND |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $0,00 | $27,85 |
| Device Type | Complex Programmable Logic Device (CPLD) | — |
| Family | MAX 9000 | MAX 9000 (third-generation Multiple Array MatriX) |
| Usable Gates | 12,000 gates | 12,000 |
| Macro Cells | 560 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 12 | 35 |
| Maximum System Frequency | 144.9 MHz | — |
| Pin-to-Pin Propagation Delay | 10 ns | — |
| Tension d'alimentation | 5 V | 5.0 V |
| Technology | CMOS EEPROM | — |
| Boîtier | 240-pin RQFP (PowerQuad) | RQFP-240 (240-pin Plastic Quad Flat Pack) |
| User I/O Pins | 192 | — |
| Type de montage | Surface Mount | Surface Mount |
| Température de fonctionnement | 0C to +70C (commercial) | 0C to +70C (Commercial) |
| Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) | 3 (168 Hours) | — |
| Statut RoHS | ROHS3 Compliant | [DATA_NEEDED: RoHS compliance - older Altera RQFP part] |
| Configuration Memory | Non-volatile EEPROM (instant-on) | — |
| Manufacturer Standard Lead Time | 1-7 Days (distributor stock) | — |
| Series | — | MAX 9000 |
| Macrocells | — | 560 |
| Maximum User I/O Pins | — | 216 |
| Pin-to-Pin Propagation Delay (tPD) | — | 15 ns |
| Internal Counter Frequency (fCNT) | — | 145 MHz |
| Global Setup Time (tFSU) | — | [DATA_NEEDED: tFSU for -15 grade] |
| Clock-to-Output Time (tFCO) | — | [DATA_NEEDED: tFCO for -15 grade] |
| Logic Family | — | CMOS (EEPROM-based) |
| Programmability | — | In-system programmable (IEEE 1532/JTAG) |
| Boundary-Scan Test | — | JTAG (IEEE 1149.1) |