5M80ZT100A5N vs 5M80ZT100I5N तुलना
विस्तृत दोनों ओर की तुलना 5M80ZT100A5N द्वारा Altera और 5M80ZT100I5N द्वारा Intel. मुख्य विशेषताओं, इलेक्ट्रिकल पैरामीटर, पैकेजिंग, चक्र स्थिति, मूल्यांकन और उपलब्धता को तुलना करके अपनी डिजाइन की आवश्यकताओं के लिए सबसे अच्छा घटक निर्धारित करें。
विशेषता तुलना
| पैरामीटर | 5M80ZT100A5N | 5M80ZT100I5N |
|---|---|---|
| ब्रांड | Altera | Intel |
| श्रेणी | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| लाइफसाइकिल स्थिति | सक्रिय | सक्रिय |
| Family | MAX V | MAX V CPLD |
| Macro Cells | 64 | — |
| Logic Elements / LABs | 8 Logic Array Blocks (LABs) | — |
| Maximum User I/O | 80 (in TQFP-100 package) | — |
| Pin-to-Pin Propagation Delay (tPD) | 7.5 ns | — |
| Maximum Internal Frequency (fMAX) | 118.3 MHz | — |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | 1.8 V | 1.71 V to 1.89 V (1.8 V typical) |
| I/O Bank Supply Voltage (VCCIO) | 1.2 V / 1.5 V / 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V (multi-voltage banks) | — |
| User Flash Memory (UFM) | 8 Kbits (typical for MAX V 64-macrocell device) | — |
| Configuration Memory | Non-volatile, on-chip flash | Internal non-volatile flash (instant-on) |
| Programming Interface | JTAG (IEEE 1149.1 / IEEE 1532) | — |
| ऑपरेटिंग जंक्शन तापमान | -40 C to +125 C (automotive/industrial grade) | — |
| पैकेज | 100-pin TQFP (T100) | TQFP-100 (100 pins, 0.5 mm pitch) |
| माउंटिंग प्रकार | Surface Mount | Surface Mount |
| MSL स्तर | 3 (per JEDEC J-STD-020) | MSL3 (per JEDEC J-STD-020) |
| RoHS स्थिति | Compliant | Compliant |
| Automotive Qualification | AEC-Q100 (A5N suffix) | — |
| Supply Current (typical) | [DATA_NEEDED: Icc typical] | — |
| Global Clock Networks | 4 | — |
| Lead-Free / Halogen-Free | Yes / Yes (per Altera lead-free roadmap) | — |
| Logic Elements (LE) | — | 80 |
| Macrocells (approx.) | — | 160 |
| User I/O Pins | — | 64 |
| Pin-to-Pin Logic Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| I/O Supply Voltage (VCCIO) | — | 1.2 V / 1.5 V / 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V |
| Operating Temperature (Industrial) | — | -40 °C to +100 °C |
| UFM (User Flash Memory) | — | Up to 8 Kbits user-accessible |
| JTAG / ISP | — | IEEE 1149.1 boundary-scan + in-system programming |