IPB100N12S305ATMA2 vs IRFB3207ZPBF Comparação

Comparação detalhada lado a lado de IPB100N12S305ATMA2 por Infineon e IRFB3207ZPBF por Infineon. Compare especificações principais, parâmetros elétricos, encapsulamento, status do ciclo de vida, preços e disponibilidade para determinar o melhor componente para os requisitos do seu projeto.

Comparação de especificações

Parâmetro IPB100N12S305ATMA2 IRFB3207ZPBF
Marca Infineon Infineon
Categoria MOSFETs MOSFETs
Status do ciclo de vida Ativo Ativo
Status do estoque In Stock In Stock
Preço unitário (USD) $1,95 $1,62
Manufacturer Infineon Technologies Infineon Technologies (formerly International Rectifier)
Series OptiMOS 5 120V HEXFET
Tipo de transistor N-Channel MOSFET —
Drain-Source Voltage (VDS) 120 V 75 V
Continuous Drain Current (ID) at Tc 100 A —
Power Dissipation (PD) at Tc 300 W —
Drain-Source On-Resistance RDS(on) 0.0048 ohm (4.8 mΩ) at VGS=10 V —
Gate-Source Voltage (VGS) max ±20 V —
Gate Threshold Voltage (VGS(th)) [DATA_NEEDED: VGS(th) typical/min/max] —
Maximum Junction Temperature 175 °C —
Avalanche Energy (EAS) 1445 mJ —
Encapsulamento / Caixa PG-TO263-3-2 (D2PAK) —
Tipo de montagem Surface Mount Through Hole
Faixa de temperatura de operação -55 °C to +175 °C (TJ) —
Automotive Qualification AEC-Q101 qualified —
Status RoHS Compliant —
Nível MSL [DATA_NEEDED: MSL rating] N/A (through-hole)
Part Number — IRFB3207ZPBF
Technology — N-Channel MOSFET (HEXFET, Z-suffix ruggedized)
Continuous Drain Current (ID) at TC=25C — 120 A
Silicon-Limited Drain Current — 170 A
Pulsed Drain Current (IDM) — [DATA_NEEDED: pulsed drain current value]
On-Resistance RDS(on) typ @ VGS=10V — 3.3 mOhm
On-Resistance RDS(on) max @ VGS=10V — 4.1 mOhm
Gate Threshold Voltage VGS(th) — [DATA_NEEDED: typical VGS(th)]
Total Gate Charge Qg — [DATA_NEEDED: total gate charge]
Power Dissition (PD) at TC=25C — 300 W
Temperatura de junção de operação — -55 C to +175 C
Encapsulamento — TO-220AB (3-lead through-hole)
Lead-Free / RoHS — Yes (PBF suffix = lead-free)
Avalanche Rated — Yes (improved Z-variant ruggedness)

Fichas técnicas e recursos

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