EPM3512AFC256-7 vs EPM3512AFI256-7 Karşılaştırma

Ayrıntılı yan yana karşılaştırma EPM3512AFC256-7 tarafından Intel ve EPM3512AFI256-7 tarafından AlteraAnahtar özellikleri, elektriksel parametreleri, ambalajı, yaşam döngüsü durumu, fiyatlandırma ve mevcudiyeti karşılaştırarak tasarım gereksinimleriniz için en iyi bileşeni belirleyin.

Özellik Karşılaştırması

Parametre EPM3512AFC256-7 EPM3512AFI256-7
Marka Intel Altera
Kategori FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Yaşam Döngüsü Durumu Son Alış Zamanı Obsolete
Family MAX 3000A MAX 3000A
Device Type CPLD (Complex Programmable Logic Device) CPLD (Complex Programmable Logic Device)
Macrocells 512 512
Logic Array Blocks (LABs) 16 32 (16 macrocells each)
User I/O Pins 212 208
Usable Gates 10,000 10,000
Pin-to-Pin Logic Delay 7.5 ns —
Counter Frequency (max) 227.3 MHz —
Supply Voltage - Core (VCCINT) 3.0 V to 3.6 V (3.3 V typ.) —
I/O Voltage (VCCIO) 5.0 V / 3.3 V / 2.5 V (MultiVolt) —
Paket 256-ball FineLine BGA (FBGA-256) 256-ball FBGA (Fine-Pitch BGA), 17 mm × 17 mm, 1.0 mm pitch
Programming EEPROM, IEEE 1149.1 JTAG ISP (IEEE 1532-compliant) —
İşletim Sıcaklığı [DATA_NEEDED: operating temperature grade] —
Montaj Türü Surface Mount Surface Mount (BGA)
RoHS Durumu [DATA_NEEDED: RoHS status] [DATA_NEEDED: confirm from data]
Configuration Memory Non-volatile EEPROM —
Pin-to-Pin Delay (tPD) — 7.5 ns
Maximum Operating Frequency — [DATA_NEEDED: fMAX value]
Supply Voltage VCCINT — 3.3 V
MultiVolt I/O Voltage — 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V tolerant
Process Technology — 0.30 µm CMOS EEPROM
In-System Programmability — IEEE Std. 1532 compliant via JTAG
Boundary-Scan Test — IEEE Std. 1149.1 (JTAG)
Operating Temperature (Industrial) — -40 °C to +85 °C

Dökümanlar & Kaynaklar

Tüm Ürünleri Gözden Geçir BOM Oluştur Teklif İsteyin