RTAX250SL-LG624V vs RTAX250S-CG624E موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از RTAX250SL-LG624V بذریعہ Microchip Technology اور RTAX250S-CG624E بذریعہ Microchip Technology. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
RTAX250SL-LG624V - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX250SL-LG624V ✓ فعالMicrochip Technology
RTAX250S-CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX250S-CG624E ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | RTAX250SL-LG624V | RTAX250S-CG624E |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microchip Technology |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Equivalent System Gates | 250000 gates | — |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 2816 | — |
| Logic Cells | 4224 | — |
| Process Technology | 0.15 um CMOS | 0.15 um CMOS |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | 1.5 V |
| User I/O | 248 | — |
| پیکیج | 624-pin LGA (LG624) | — |
| Family | RTAX-S/SL and RTAX-DSP Radiation-Tolerant FPGAs | RTAX-S radiation-tolerant FPGA |
| Program Technology | Anti-fuse, one-time programmable | — |
| Configuration | Live at power-up, single chip | — |
| Embedded Memory | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic | — |
| Clocking | Segmentable clocks, chip-wide highway routing | — |
| Radiation Tolerance | Radiation-tolerant, SEU-mitigated (SL variant) | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS Status] | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | [DATA_NEEDED: Operating Temperature] | -55C to +125C |
| System Gates | — | 250000 gates |
| Logic Cells (CLBs) | — | 2816 |
| Maximum Toggle Frequency | — | 649 MHz |
| Logic Family | — | CMOS |
| CLB Combinatorial Delay (max) | — | 0.930 ns |
| Package Type | — | CCGA-624 (ceramic column grid array, 624 pins) |
| Programming Technology | — | Antifuse (one-time programmable) |
| SEU Hardening | — | SEU-hardened registers, no external TMR required |
| SEU Immunity | — | Immune to single-event upsets to specified LET threshold; SEU rate < 10-10 errors/bit-day |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (true single-chip) |
| Target Application | — | Space-flight systems |