EP1K30QC208-1N vs EP1K30QC208-1 So sánh
So sánh chi tiết song song của EP1K30QC208-1N bằng Altera và EP1K30QC208-1 bằng Intel. So sánh các thông số quan trọng, thông số điện tử, gói gọn, trạng thái vòng đời, giá cả và khả năng cung cấp để xác định linh kiện tốt nhất cho yêu cầu thiết kế của bạn.
So sánh thông số kỹ thuật
| Tham số | EP1K30QC208-1N | EP1K30QC208-1 |
|---|---|---|
| Thương hiệu | Altera | Intel |
| Danh mục | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Trạng thái vòng đời | Obsolete | Obsolete |
| Device Family | ACEX 1K | ACEX-1K |
| Product Type | FPGA (Field Programmable Gate Array) | — |
| Number of Typical Gates | 30000 | — |
| Number of Logic Elements / Cells | 1728 | — |
| Number of LABs / CLBs | 216 | — |
| Total RAM Bits | 24576 | — |
| Number of User I/O | 147 | — |
| Điện áp cung cấp | 2.5 V | — |
| Process Technology | 0.22 um | 2.5 V CMOS |
| Maximum Internal Frequency | 250 MHz | — |
| Package Type | 208-BFQFP (208-pin PQFP) | — |
| Package Code | FQFP, square | — |
| Terminal Form | Gull wing | — |
| Number of Terminals | 208 | — |
| Temperature Grade | Commercial | — |
| Lead-Free Finish (N-Suffix) | Yes | — |
| Kiểu lắp đặt | Surface Mount | Surface Mount (gull-wing leads) |
| Trạng thái RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | Compliant (lead-free) |
| REACH Status | [DATA_NEEDED: REACH compliance status] | — |
| Khoảng nhiệt độ hoạt động | [DATA_NEEDED: exact operating temperature range] | — |
| Moisture Sensitivity Level | [DATA_NEEDED: MSL] | — |
| Logic Elements (LEs) | — | 1,728 |
| Equivalent Gates | — | 30,000 |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 216 |
| Embedded Memory (EAB) | — | 24,576 bits |
| Maximum User I/O | — | 147 |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | — | 2.5 V (2.375 V to 2.625 V) |
| Hộp | — | 208-BFQFP (Plastic Quad Flat Pack, PQFP208) |
| Terminal Pitch | — | 0.500 mm |
| Nhiệt độ hoạt động | — | 0 °C to +70 °C (commercial) |
| Maximum Operating Frequency | — | up to 250 MHz (family typical) |
| Configuration Method | — | SRAM, in-system reconfigurable (volatile) |
| Boundary-Scan Test | — | JTAG IEEE 1149.1 |
| I/O Voltage Support | — | 2.5 V / 3.3 V (multi-volt I/O) |
| Configuration Device Support | — | EPC2, EPC4, EPC8 Enhanced Configuration Devices |