EPF10K200EBI600-2N vs EPF10K200EBC600-3 So sánh
So sánh chi tiết song song của EPF10K200EBI600-2N bằng Intel và EPF10K200EBC600-3 bằng Intel. So sánh các thông số quan trọng, thông số điện tử, gói gọn, trạng thái vòng đời, giá cả và khả năng cung cấp để xác định linh kiện tốt nhất cho yêu cầu thiết kế của bạn.
Intel
EPF10K200EBC600-3 - 200K Gate FLEX 10KE FPGA, 600-BGA | Intel / Altera
EPF10K200EBC600-3 ObsoleteSo sánh thông số kỹ thuật
| Tham số | EPF10K200EBI600-2N | EPF10K200EBC600-3 |
|---|---|---|
| Thương hiệu | Intel | Intel |
| Danh mục | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Trạng thái vòng đời | Obsolete | Obsolete |
| Family | FLEX 10KE | FLEX 10KE |
| Typical Gates | 200,000 | — |
| Maximum System Gates | 513,000 | — |
| Logic Elements (LEs) | 9,984 | — |
| Embedded Array Blocks (EABs) | 12 | — |
| Total RAM Bits | 98,304 | — |
| User I/O Pins | 470 | — |
| Dedicated Inputs | 6 | — |
| Hộp | 600-ball BGA (45 mm x 45 mm, 1.27 mm pitch) | 600-ball FineLine BGA, 45 x 45 mm |
| Technology / Process | 0.22 µm CMOS SRAM | — |
| Core Supply Voltage | 2.5 V (2.3 V to 2.7 V) | — |
| I/O Supply Voltage | 2.5 V / 3.3 V (5 V tolerant I/O available) | — |
| Propagation Delay | 0.4 ns to 0.6 ns (per LE) | — |
| Maximum Internal Frequency | 200 MHz | — |
| Nhiệt độ hoạt động | 0 °C to +70 °C (commercial) | 0C to +70C (commercial) |
| Configuration Method | SRAM, JTAG (IEEE 1149.1), serial configuration EPROM | — |
| Cấp MSL | [DATA_NEEDED: moisture sensitivity level] | — |
| Trạng thái RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| Kiểu lắp đặt | Surface Mount (BGA) | Surface Mount |
| Series | — | FLEX-10KE |
| System Gates | — | 200,000 |
| Logic Elements / Cells | — | 9,984 |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 1248 |
| Embedded Memory (EABs) | — | 24,576 bits |
| Maximum User I/O | — | 470 |
| Number of PLLs | — | 4 |
| Core Voltage | — | 2.5 V (2.375 V to 2.625 V) |
| Process Technology | — | 0.22 micrometer SRAM |
| Speed Grade | — | -3 (commercial) |
| JTAG Support | — | Yes (IEEE 1149.1 boundary-scan) |