EPM9480RC240-20 vs EPM9560R1208-20 So sánh
So sánh chi tiết song song của EPM9480RC240-20 bằng Altera và EPM9560R1208-20 bằng Altera. So sánh các thông số quan trọng, thông số điện tử, gói gọn, trạng thái vòng đời, giá cả và khả năng cung cấp để xác định linh kiện tốt nhất cho yêu cầu thiết kế của bạn.
So sánh thông số kỹ thuật
| Tham số | EPM9480RC240-20 | EPM9560R1208-20 |
|---|---|---|
| Thương hiệu | Altera | Altera |
| Danh mục | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Trạng thái vòng đời | NRND | Obsolete |
| Family | MAX 9000 | MAX 9000 |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macrocells | 480 | 560 |
| Usable Gates | 10,000 | 6,000 |
| Logic Elements | 30 | — |
| User I/O Pins | 175 | — |
| Number of Terminals | 240 | — |
| Hộp | 240-RQFP (32x32 mm, FQFP, Gull Wing) | R-1208 (BGA-style fine-pitch) |
| Maximum Propagation Delay (tpd) | 20 ns | — |
| Maximum Internal Frequency (fMAX, related -C variant) | 100 MHz | — |
| Programmable Flip-Flops (family) | 676 | — |
| Internal Supply Voltage | 4.75 V to 5.25 V | — |
| I/O Signaling Levels | 3.3 V or 5 V (configurable) | — |
| Process Technology | CMOS EEPROM | CMOS EEPROM, third-generation MAX architecture |
| Programming Interface | In-System Programmable (ISP) via IEEE 1149.1 JTAG | — |
| Operating Temperature Grade | Commercial | — |
| Terminal Form | Gull Wing | — |
| Trạng thái RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: confirm via current distributor data] |
| Logic Array Blocks | — | 52 (typical for 560 macrocells) |
| Maximum User I/O | — | 212 |
| Propagation Delay (tPD) | — | 20 ns |
| Maximum Frequency (fMAX) | — | 125 MHz |
| Supply Voltage (VCCINT/VCCIO) | — | 5.0 V |
| Technology | — | CMOS EEPROM |
| In-System Programmability | — | Yes (IEEE 1149.1 JTAG) |
| Nhiệt độ hoạt động | — | 0C to +70C (commercial) |
| Kiểu lắp đặt | — | Surface Mount |
| Architecture | — | Multiple Array MatriX (MAX) with Logic Array Blocks (LABs) and Programmable Interconnect Array (PIA) |
| Boundary-Scan Test | — | JTAG IEEE Std. 1149.1 |
| Configuration Memory | — | On-chip EEPROM (non-volatile) |