IPB019N08N3GATMA1 vs IRFB3207ZPBF Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de IPB019N08N3GATMA1 par Infineon et IRFB3207ZPBF par Infineon. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Comparaison des spécifications

Paramètre IPB019N08N3GATMA1 IRFB3207ZPBF
Marque Infineon Infineon
Catégorie MOSFETs MOSFETs
Statut du cycle de vie Actif Actif
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $2,74 $1,62
Manufacturer Infineon Technologies Infineon Technologies (formerly International Rectifier)
Series OptiMOS 3 HEXFET
FET Type N-Channel —
Technology MOSFET (Metal Oxide) N-Channel MOSFET (HEXFET, Z-suffix ruggedized)
Drain-to-Source Voltage (Vdss) 80 V —
Continuous Drain Current (Id) @ Tc=25°C 180 A —
Power Dissipation (Pd) @ Tc=25°C 300 W —
On-Resistance RDS(on) Max @ VGS=10V 1.9 mΩ —
Gate Threshold Voltage (Vgs(th)) 3.5 V —
Drive Voltage (Rds On Max) 6 V, 10 V —
Total Gate Charge (Qg) @ VGS=10V 206 nC —
Input Capacitance (Ciss) 14.2 nF —
Output Capacitance (Coss) 3.84 nF —
Reverse Transfer Capacitance (Crss) 3.84 nF —
Plage de température de fonctionnement -55 °C to +175 °C —
Boîtier PG-TO263-7 (D2PAK-6, surface mount) TO-220AB (3-lead through-hole)
Type de montage Surface Mount Through Hole
Statut RoHS Compliant —
Part Number — IRFB3207ZPBF
Drain-Source Voltage (VDS) — 75 V
Continuous Drain Current (ID) at TC=25C — 120 A
Silicon-Limited Drain Current — 170 A
Pulsed Drain Current (IDM) — [DATA_NEEDED: pulsed drain current value]
On-Resistance RDS(on) typ @ VGS=10V — 3.3 mOhm
On-Resistance RDS(on) max @ VGS=10V — 4.1 mOhm
Gate Threshold Voltage VGS(th) — [DATA_NEEDED: typical VGS(th)]
Total Gate Charge Qg — [DATA_NEEDED: total gate charge]
Power Dissition (PD) at TC=25C — 300 W
Température de jonction en fonctionnement — -55 C to +175 C
Lead-Free / RoHS — Yes (PBF suffix = lead-free)
Niveau MSL — N/A (through-hole)
Avalanche Rated — Yes (improved Z-variant ruggedness)

Fiches techniques et ressources

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