RTAX250S-1LG624V vs RTAX250S-CG624E موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از RTAX250S-1LG624V بذریعہ Microchip Technology اور RTAX250S-CG624E بذریعہ Microchip Technology. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
RTAX250S-1LG624V - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA 1.5V | Microchip
RTAX250S-1LG624V ✓ فعالMicrochip Technology
RTAX250S-CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX250S-CG624E ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | RTAX250S-1LG624V | RTAX250S-CG624E |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microchip Technology |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Family | RTAX-S Radiation-Tolerant FPGA | RTAX-S radiation-tolerant FPGA |
| Equivalent Gate Count | 250000 gates | — |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 2816 | — |
| Logic Cells | 4224 | — |
| I/Os | 248 | — |
| Core Supply Voltage | 1.5 V nominal | 1.5 V |
| Speed Grade | -1 | — |
| پیکیج | CGA624 (LG624), 624-column ceramic column grid array | — |
| Package Suffix | V (leaded column finish) | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | -55C to +125C | -55C to +125C |
| Technology | CMOS, antifuse programmable | — |
| Radiation Tolerance | Radiation-tolerant (RTAX-S family, SEU-tolerant) [DATA_NEEDED: TID and SEU LET figures] | — |
| Configuration | Live at power-up, single chip, no boot PROM | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| MSL لیول | [DATA_NEEDED: MSL level] | — |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS status - ceramic space-grade package typically exempt] | — |
| لائف سائیکل کی حالت | Active | — |
| System Gates | — | 250000 gates |
| Logic Cells (CLBs) | — | 2816 |
| Maximum Toggle Frequency | — | 649 MHz |
| Process Technology | — | 0.15 um CMOS |
| Logic Family | — | CMOS |
| CLB Combinatorial Delay (max) | — | 0.930 ns |
| Package Type | — | CCGA-624 (ceramic column grid array, 624 pins) |
| Programming Technology | — | Antifuse (one-time programmable) |
| SEU Hardening | — | SEU-hardened registers, no external TMR required |
| SEU Immunity | — | Immune to single-event upsets to specified LET threshold; SEU rate < 10-10 errors/bit-day |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (true single-chip) |
| Target Application | — | Space-flight systems |