EPF8820ARC208-24 vs EPF8820ARC208-3 So sánh
So sánh chi tiết song song của EPF8820ARC208-24 bằng Altera và EPF8820ARC208-3 bằng Intel. So sánh các thông số quan trọng, thông số điện tử, gói gọn, trạng thái vòng đời, giá cả và khả năng cung cấp để xác định linh kiện tốt nhất cho yêu cầu thiết kế của bạn.
Altera
EPF8820ARC208-24 - FLEX 8000 FPGA, 8K Gates, 672 Cells, 208-RQFP | Altera
EPF8820ARC208-24 ObsoleteIntel
EPF8820ARC208-3 - FLEX 8000 FPGA, 8K Gates, 672 Cells | Intel / Altera
EPF8820ARC208-3 ObsoleteSo sánh thông số kỹ thuật
| Tham số | EPF8820ARC208-24 | EPF8820ARC208-3 |
|---|---|---|
| Thương hiệu | Altera | Intel |
| Danh mục | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Trạng thái vòng đời | Obsolete | Obsolete |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 (EPF8820) |
| Usable Gates | 8,000 | 8,000 |
| Logic Cells | 672 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 48 | — |
| User I/O Pins | 152 | — |
| Maximum Toggle Frequency | 125 MHz | — |
| Process Technology | 0.42 µm CMOS SRAM | 0.42 µm CMOS |
| Supply Voltage (VCC) | 4.75 V to 5.25 V (5 V nominal) | 4.75 V to 5.25 V |
| I/O Standards | 3.3 V / 5.0 V MultiVolt I/O | — |
| Speed Grade | -24 | — |
| Configuration Method | Serial configuration device (EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441), parallel EPROM, or JTAG | — |
| In-Circuit Reconfigurability | Yes (ICR) | — |
| Hộp | 208-pin RQFP (exposed pad) | — |
| Nhiệt độ hoạt động | [DATA_NEEDED: industrial/commercial range] | — |
| Trạng thái RoHS | [DATA_NEEDED: not confirmed in datasheet] | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Lead-Free | [DATA_NEEDED] | — |
| Series | — | FLEX 8000 |
| Logic Cells / Elements | — | 672 |
| Registers | — | 152 |
| Maximum Operating Frequency | — | 125 MHz |
| Configuration Memory | — | SRAM (volatile) |
| Hộp / Vỏ | — | 208-BFQFP Exposed Pad (208-RQFP, 28x28 mm) |
| Supplier Device Package | — | 208-RQFP (28x28) |
| Kiểu lắp đặt | — | Surface Mount |
| Packaging | — | Tray |
| Khoảng nhiệt độ hoạt động | — | [DATA_NEEDED: operating temperature range] |
| In-Circuit Reconfigurability (ICR) | — | Yes (via external configuration devices) |
| Boundary-Scan Test | — | JTAG (IEEE 1149.1) |
| I/O Tolerance | — | 3.3 V / 5 V |
| Clock Networks | — | 4 dedicated low-skew global clocks |
| Lead-Free / Finish | — | [DATA_NEEDED: lead-free finish] |