RTAX250SL-CQ352V vs RTAX1000SL-CQ352V So sánh
So sánh chi tiết song song của RTAX250SL-CQ352V bằng Microsemi và RTAX1000SL-CQ352V bằng Microchip Technology. So sánh các thông số quan trọng, thông số điện tử, gói gọn, trạng thái vòng đời, giá cả và khả năng cung cấp để xác định linh kiện tốt nhất cho yêu cầu thiết kế của bạn.
Microchip Technology
RTAX1000SL-CQ352V - 1M-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX1000SL-CQ352V ✓ Hoạt độngSo sánh thông số kỹ thuật
| Tham số | RTAX250SL-CQ352V | RTAX1000SL-CQ352V |
|---|---|---|
| Thương hiệu | Microsemi | Microchip Technology |
| Danh mục | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Trạng thái vòng đời | Hoạt động | Hoạt động |
| Family | RTAX-S/SL Radiation-Tolerant FPGAs | RTAX-SL (RTAX-S/SL Radiation-Tolerant FPGAs) |
| Equivalent System Gates | 250000 gates | 1,000,000 |
| Logic Cells | 4224 | 18,144 |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 2816 | — |
| Process Technology | CMOS | 0.15 um CMOS |
| Core Supply Voltage (Nominal) | 1.5 V | — |
| Core Supply Voltage Range | 1.425 V to 1.575 V | — |
| Number of Inputs | 198 | — |
| Số lượng đầu ra | 198 | — |
| Total Terminals | 352 | — |
| Hộp | CQFP-352 (CQ352) ceramic | 352-pin Ceramic CQFP (CQ352V) |
| Embedded Memory | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic |
| Combinatorial Delay (max) | 0.93 ns | — |
| Operation | Live at power-up | — |
| Kiểu lắp đặt | Surface Mount | Surface Mount |
| Application Domain | Space-flight systems | — |
| User I/O | [DATA_NEEDED: user I/O count] | — |
| Nhiệt độ hoạt động | [DATA_NEEDED: operating temperature range] | [DATA_NEEDED: operating temperature range] |
| CLBs (Logic Modules) | — | 12,096 |
| Maximum Toggle Frequency | — | 581 MHz |
| Core Voltage | — | 1.5 V |
| Programming Technology | — | Antifuse (one-time programmable) |
| Radiation Tolerance | — | Radiation-tolerant, space-flight qualified family |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (non-volatile) |
| Configuration Upset Immunity | — | No SEU in configuration memory (antifuse) |
| I/O Voltage | — | [DATA_NEEDED: I/O bank voltage range] |
| Total Ionizing Dose (TID) | — | [DATA_NEEDED: TID rating in krad (Si)] |
| Cấp MSL | — | [DATA_NEEDED: moisture sensitivity level] |
| Trạng thái RoHS | — | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| Estimated Equivalent Gates per CLB | — | [DATA_NEEDED: gates-per-CLB ratio] |