EPF8282ATC100-3 vs EPF8282ATC100-4 तुलना
विस्तृत दोनों ओर की तुलना EPF8282ATC100-3 द्वारा Intel और EPF8282ATC100-4 द्वारा Intel. मुख्य विशेषताओं, इलेक्ट्रिकल पैरामीटर, पैकेजिंग, चक्र स्थिति, मूल्यांकन और उपलब्धता को तुलना करके अपनी डिजाइन की आवश्यकताओं के लिए सबसे अच्छा घटक निर्धारित करें。
विशेषता तुलना
| पैरामीटर | EPF8282ATC100-3 | EPF8282ATC100-4 |
|---|---|---|
| ब्रांड | Intel | Intel |
| श्रेणी | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| लाइफसाइकिल स्थिति | Obsolete | Obsolete |
| Family | FLEX 8000 | Flex 8000 FPGA |
| Logic Cells (LEs) | 208 | — |
| Usable Gates | 2,500 | 2500 |
| Typical Gates Equivalent | 12,000 | — |
| Maximum User I/O | 78 | — |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | 26 | — |
| Embedded Array Blocks (EABs) | 6 | — |
| Total RAM Bits | 12 Kbits | [DATA_NEEDED: total embedded memory bits] |
| Process Technology | 0.42 micron CMOS SRAM | — |
| Supply Voltage (Core) | 5 V | — |
| MultiVolt I/O Support | 3.3 V / 5 V | — |
| Maximum Frequency | 125 MHz | — |
| Speed Grade | -3 | — |
| पैकेज | 100-pin TQFP (100-TQFP) | — |
| Configuration Method | SRAM, EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441, microprocessor | SRAM (serial or parallel EPROM) |
| Operating Temperature (Commercial) | 0 C to +70 C | — |
| In-Circuit Reconfigurable | Yes (ICR) | — |
| Boundary Scan | JTAG IEEE 1149.1 | — |
| Series | — | FLEX 8000 |
| Number of Logic Elements/Cells | — | 208 |
| Number of LABs/CLBs | — | 26 |
| Number of I/O | — | 78 |
| सप्लाई वोल्टेज | — | 5 V |
| I/O Voltage (MultiVolt) | — | 3.3 V or 5.0 V |
| ऑपरेटिंग तापमान | — | 0 C to 70 C |
| माउंटिंग प्रकार | — | Surface Mount |
| पैकेज / केस | — | 100-TQFP (LFQFP, S-PQFP-G100) |
| पिन काउंट | — | 100 |
| Terminal Pitch | — | 0.500 mm |
| Logic Family | — | CMOS |
| Configuration Devices Supported | — | EPC1, EPC1064, EPC1213, EPC1441 |
| RoHS स्थिति | — | [DATA_NEEDED: RoHS status - obsolete part] |
| Temperature Grade | — | Commercial |
| MSL स्तर | — | [DATA_NEEDED: MSL level] |