IRFR2405TRPBF vs IRFR220NPBF مقایسه
مقایسه دقیق کنار به کنار IRFR2405TRPBF توسط Infineon و IRFR220NPBF توسط Infineon. مشخصات کلیدی، پارامترهای الکتریکی، بستهبندی، وضعیت چرخه عمر، قیمتگذاری و موجودی را مقایسه کنید تا بهترین قطعه را برای نیازهای طراحی خود تعیین کنید.
مقایسه مشخصات
| پارامتر | IRFR2405TRPBF | IRFR220NPBF |
|---|---|---|
| برند | Infineon | Infineon |
| دستهبندی | MOSFETs | MOSFETs |
| وضعیت چرخه عمر | فعال | فعال |
| Manufacturer | Infineon Technologies | — |
| Part Status | Active | — |
| FET Type | N-Channel | N-Channel MOSFET, Metal Oxide |
| Technology | HEXFET (IR MOSFET) | HEXFET (Planar) |
| Drain-Source Voltage (VDS) | 55 V | — |
| Continuous Drain Current (ID) at Tc=25C | 56 A | — |
| Pulsed Drain Current (IDM) | [DATA_NEEDED: pulsed drain current] | — |
| Gate-Source Voltage (VGS) max | [DATA_NEEDED: VGS max rating] | — |
| Gate Threshold Voltage (VGS(th)) | [DATA_NEEDED: VGS(th) typical] | [DATA_NEEDED: gate threshold voltage] |
| On-Resistance RDS(on) max at VGS=10V | 16 mOhm | — |
| On-Resistance RDS(on) max at VGS=5V | [DATA_NEEDED: RDS(on) at 5V] | — |
| Total Gate Charge (Qg) | 70 nC | [DATA_NEEDED: total gate charge] |
| Power Dissipation (PD) at Tc=25C | 110 W | — |
| دمای اتصال کاری | -55C to +175C | — |
| بستهبندی | TO-252AA (DPAK) | — |
| نوع نصب | Surface Mount | Surface Mount |
| تعداد پایه | 3 (Gate, Drain, Source) + Tab | 3 (Gate, Drain, Source) plus tab |
| سطح MSL | 1 | 1 (per JEDEC J-STD-020) |
| وضعیت RoHS | Compliant (Lead-Free PBF suffix) | — |
| بدون هالوژن | [DATA_NEEDED: halogen-free status] | — |
| Avalanche Rated | Yes (100% avalanche tested) | — |
| Drain-to-Source Voltage (VDS) | — | 200 V |
| Continuous Drain Current (ID) at TC=25C | — | 5 A |
| Power Dissipation (PD) at TC=25C | — | 43 W |
| Static Drain-Source On-Resistance (RDS(on)) max | — | 0.6 ohm at VGS = 10 V |
| بستهبندی / کیس | — | TO-252AA (DPAK) |
| محدوده دمای کاری | — | -55C to +150C (junction) |
| Lead-Free / RoHS | — | Yes, lead-free (PBF suffix) |
| Avalanche Energy Rated | — | Yes (per datasheet characterization) |