K9DVGB8U5M vs K9HCG08U1M 비교
다음의 상세 나란히 비교: K9DVGB8U5M 제조: Samsung Electronics 및 K9HCG08U1M 제조: Samsung Electronics. 주요 사양, 전기적 파라미터, 패키징, 수명 주기 상태, 가격 및 재고를 비교하여 설계 요구 사항에 가장 적합한 부품을 결정하십시오.
사양 비교
| 파라미터 | K9DVGB8U5M | K9HCG08U1M |
|---|---|---|
| 브랜드 | Samsung Electronics | Samsung Electronics |
| 카테고리 | Memory ICs | Memory ICs |
| 수명 주기 상태 | 활성 | 활성 |
| 재고 상태 | In Stock | In Stock |
| 단가 (USD) | $3.05 | $0.00 |
| 메모리 유형 | NAND Flash | — |
| 메모리 구성 | [DATA_NEEDED: capacity organization] | 8G x 8 |
| 인터페이스 | Asynchronous x8-bit I/O | — |
| 공급 전압 | [DATA_NEEDED: VCC range] | [DATA_NEEDED: supply voltage] |
| 패키지 | [DATA_NEEDED: package type and dimensions] | TSOP-48 (PDSO48) |
| 실장 유형 | Surface Mount | Surface Mount |
| Page Size | [DATA_NEEDED: main page size] | [DATA_NEEDED: page size] |
| Block Size | [DATA_NEEDED: erase block size] | [DATA_NEEDED: block size] |
| Read Time (tR) | [DATA_NEEDED: page read cycle time] | [DATA_NEEDED: read time] |
| Program Time (tPROG) | [DATA_NEEDED: page program time] | [DATA_NEEDED: program time] |
| Erase Time (tBERS) | [DATA_NEEDED: block erase time] | — |
| Endurance | [DATA_NEEDED: program/erase cycles] | — |
| Data Retention | [DATA_NEEDED: retention specification] | — |
| 동작 온도 | [DATA_NEEDED: temperature range] | -40C to +105C (TA) |
| Access Interface Signals | CLE, ALE, WE, RE, CE, R/B, WP | — |
| Bad Block Management | Host-managed (controller ECC and bad-block table required) | — |
| RoHS 상태 | [DATA_NEEDED: RoHS compliance] | — |
| Memory Technology | — | MLC NAND Flash |
| Total Capacity | — | 64 Gbit |
| 데이터 버스 폭 | — | 8 bit |
| 인터페이스 유형 | — | Asynchronous NAND (multiplexed address/data/command) |
| Program/Erase Cycles | — | [DATA_NEEDED: endurance] |
| Ready/Busy Output | — | Yes (R/B#) |
| Die Technology | — | Samsung E-die (per datasheet family) |
| Full Ordering Code | — | K9HCG08U1M-PCB0 / K9HCG08U1M-PCB0T00 |