K4B4G1646D-BYH9 vs K4B4G1646E-BYK000 比較

詳細並排比較 K4B4G1646D-BYH9 由 Samsung Electronics 與 K4B4G1646E-BYK000 由 Samsung Electronics. 比較關鍵規格、電氣參數、封裝、生命週期狀態、價格與供貨情況,以找出最符合您設計需求的元件。

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K4B4G1646D-BYH9 K4B4G1646D-BYH9 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 1333Mbps | Samsung

K4B4G1646D-BYH9 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 1333Mbps | Samsung

K4B4G1646D-BYH9 ✓ 啟用中
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K4B4G1646E-BYK000 K4B4G1646E-BYK000 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 | Samsung

K4B4G1646E-BYK000 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 | Samsung

K4B4G1646E-BYK000 ✓ 啟用中

規格比較

參數 K4B4G1646D-BYH9 K4B4G1646E-BYK000
品牌 Samsung Electronics Samsung Electronics
類別 Memory ICs Memory ICs
生命週期狀態 啟用中 啟用中
Density 4 Gb —
組織 256M x 16 256M x 16
資料速率 1333 Mbps —
供應電壓 1.35 V —
工作溫度 0 ~ 85 °C [DATA_NEEDED: operating temperature range]
封裝 96FBGA 96-FBGA (BYK)
Number of Banks 8 [DATA_NEEDED: bank count]
CAS 延遲 Programmable —
Write Latency Programmable —
On-Die Termination Yes —
Internal Calibration Yes —
Lead-Free Yes —
無鹵素 Yes —
RoHS Compliant Yes —
Die Version D-die —
記憶體類型 — DDR3L SDRAM
記憶體容量 — 4 Gbit
Speed Grade — DDR3-1600 (1.25 ns clock cycle)
Clock Frequency — 800 MHz
CAS Latency (CL) — [DATA_NEEDED: CAS latency - 1.25 ns CL grade indicates CL11 but not explicitly stated in provided data]
Supply Voltage (VDD) — 1.35 V (DDR3L), 1.5 V compatible (DDR3)
Die Process — Samsung E-die
安裝類型 — Surface Mount
介面 — Parallel
功能特色 — Auto precharge, asynchronous reset, ZQ calibration, dynamic on-chip termination, data mask
RoHS 狀態 — [DATA_NEEDED: RoHS status]
Access Time — 1.25 ns

資料表與資源

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