K4B4G1646E-BYMATCV vs K4B4G1646E-BYK0 比較
詳細並排比較 K4B4G1646E-BYMATCV 由 Samsung Electronics 與 K4B4G1646E-BYK0 由 Samsung Electronics. 比較關鍵規格、電氣參數、封裝、生命週期狀態、價格與供貨情況，以找出最符合您設計需求的元件。
規格比較
| 參數 | K4B4G1646E-BYMATCV | K4B4G1646E-BYK0 |
|---|---|---|
| 品牌 | Samsung Electronics | Samsung Electronics |
| 類別 | Memory ICs | Memory ICs |
| 生命週期狀態 | 啟用中 | 啟用中 |
| 記憶體類型 | DDR3L SDRAM | DDR3L SDRAM |
| 記憶體容量 | 4 Gbit (256M x 16) | — |
| 資料速率 | 1866 Mbps | DDR3-1600 (800 MHz) |
| 供應電壓 | 1.35 V | 1.35 V (1.283 V to 1.45 V) |
| I/O Voltage (VDDQ) | 1.35 V | — |
| 封裝 | 96-ball FBGA | 96-ball FBGA (13 x 9 mm, 0.8 mm pitch) |
| 腳位數 | 96 | — |
| 工作溫度範圍 | -40°C to +95°C | — |
| Number of Banks | 8 | — |
| Burst Length | 8 (with burst chop 4) | 8 (fixed), 4 (burst chop) |
| CAS 延遲 | Programmable (e.g., 13, 12, 11) | 11 (CL-tRCD-tRP) |
| On-Die Termination (ODT) | Yes | — |
| Auto Precharge | Yes | Yes |
| Self-Refresh | Yes | Yes |
| RoHS 狀態 | Compliant | — |
| Density | — | 4 Gb |
| 組織 | — | 256M x 16 |
| 工作溫度 | — | 0°C to +95°C (TC) |
| On-Die Termination | — | Yes (dynamic ODT) |
| ZQ Calibration | — | Yes |
| Asynchronous Reset | — | Yes |
| Data Mask | — | Yes |
| RoHS | — | Compliant |